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JM-3B振动校验装置

JM-3B振动校验装置

简要描述:JM-3B振动校验装置,为了确保传感器符合本公司出厂线性度、灵敏度要求,都需要使用静态位移校准仪校验以及对位移类测量仪表系统的标定。

产品型号:

所属分类:振动校验装置

更新时间:2021-01-05

厂商性质:生产厂家

详情介绍

JM-3B振动校验装置

JM-3B振动校验装置用于传感器出厂检验和用户验收电涡流位移传感器线性的必要工具,为了确保传感器符合本公司出厂线性度、灵敏度要求,都需要使用静态位移校准仪校验以及对位移类测量仪表系统的标定。 


    用静态位移校验仪检验传感器的线性特性曲线时,通常将传感器的满有效线性量程按20个等分点进行校验(若为φ8探头电涡流传感器,其本身有效线性测量量程为2mm,当按20个等分点进行校验时,即每移动试盘0.1mm后在前置器上读出一个数据,以此操作,读出20个数据,绘制传感器输出线性特性曲线,分析传感器输出曲线非线性误差是否满足≤±1%的要求)。位移静态校准仪试件盘应避免接触强磁性物质,以防试件盘被磁化而改变其材料性质,带来测量误差。
    用静态位移校验仪检验传感器的线性特性曲线时,通常将传感器的满有效线性量程按20个等分点进行校验(若为φ8探头电涡流传感器,其本身有效线性测量量程为2mm,当按20个等分点进行校验时,即每移动试盘0.1mm后在前置器上读出一个数据,以此操作,读出20个数据,绘制传感器输出线性特性曲线,分析传感器输出曲线非线性误差是否满足≤±1%的要求)。位移静态校准仪试件盘应避免接触强磁性物质,以防试件盘被磁化而改变其材料性质,带来测量误差。

 

当按20个等分点进行校验时,即每移动试盘0.1mm后在前置器上读出一个数据,以此操作,读出20个数据,绘制传感器输出线性特性曲线,分析传感器输出曲线非线性误差是否满足≤±1%的要求)。位移静态校准仪试件盘应避免接触强磁性物质,以防试件盘被磁化而改变其材料性质,带来测量误差。



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